Zentrum für Nanomaterialanalytik

Folgende Analytikmethoden stehen zur Verfügung:

• Röntgendiffraktometrie (XRD-Messungen) für kristallographischen Untersuchungen (Bragg-Brentano, Parallelstrahl mit einer Hochtemperaturkammer für in-situ Untersuchungen)
• Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS) zur Untersuchung von 3-dimensionalen Strukturen, Partikeln und Anordnungen in der Größenordnung von 1 bis 100 nm
• hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (REM) gekoppelt mit EDX
• BET-Messungen zur Größenbestimmung von Oberflächen, z.B. poröser Festkörper, durch Physisorption von N₂ oder Kr, Bestimmung von Mikroporen und Porengrößenverteilungen
• ICP-OES-Messungen (induktiv gekoppeltes Plasma) zur Elementaranalyse
• HPLC-MS für die Analyse von flüssigen Produkten und GC für die Gasphasenanalyse
• elektrochemische Gasraumanalyse mittels MS und in-situ DEMS (Differentially Pumped Mass Spectrometer)
• elektrochemische in-situ Untersuchungen mittels FTIR (ATR und äußere Reflexion (IRRAS))
• Mikrowellenaufschlussgerät, halbkontinuierlicher Hochtemperaturreaktor,  Durchflussrohröfen
• MEA Brennstoffzellenteststation
• rotierende Ring-Scheibe-Elektroden für elektrochemische Charakterisierungen mittels Cyclovoltammetrie, Chronopotentiometrie, Amperometrie, Impedanzmessungen, ....

Anfragen senden Sie bitte mit kurzer Problembeschreibung an folgende E-Mail-Adresse: pstrasser@tu-berlin.de. 

Gefördert aus Mitteln der Europäischen Union zur Förderung von Innovationen und
wissensbasierter Wirtschaft (EFRE 20072013 2/19).